HONG  CHEN

¡§ Conference papers

¡§ 1. Multi-Dimension Combining (MDC) in Abstract Level and Hierarchical MDC (HMDC) to Improve the Classification Accuracy of Enose

¡§ Hong chen, Rafik Goubran, Tofy Mussivand

¡§ IEEE 2005 Instrumentation and Measurement Technology Conference

¡§ Ottawa, ON, Canada, 16-19 May 2005

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¡§ 2. Improving the classation accuracy in electronic nose using multi-dimensional combining (MDC)

¡§ Hong chen, Rafik Goubran, Tofy Mussivand

¡§ IEEE Sensors 2004

¡§ Vienna, Austria, Oct 24-27, 2004